|
Arabic
Bengali
Chinese
English
French
German
Hebrew
Hindi
Italian
Japanese
Korean
Malay
Polish
Portuguese
Spanish
Turkish
Ukrainian
Vietnamese
ЕНЦИКЛОПЕДІЯ РАДІОЕЛЕКТРОНІКИ ТА ЕЛЕКТРОТЕХНІКИ Тестер діодів та біполярних транзисторів. Енциклопедія радіоелектроніки та електротехніки
Енциклопедія радіоелектроніки та електротехніки / Вимірювальна техніка Більшість сучасних тестерів (мультиметрів) мають вбудовані функції тестування діодів та іноді транзисторів. Але якщо ваш тестер не має цих функцій, ви можете зібрати тестер діодів і транзисторів своїми руками. Нижче наведено проект тестера на мікроконтролері PIC16F688. Логіка тестування діодів дуже проста. Діод - це PN-перехід, який, як відомо, проводить струм лише в одному напрямку. Отже, робочий діод проводитиме струм в одному напрямку. Якщо діод проводить струм в обох напрямках, то діод неробочий - пробитий. Якщо діод в жодному з напрямів не проводить, то діод також не робочий. Схемна реалізація цієї логіки показана нижче.
Дану логіку легко можна адаптувати для тесту біполярних транзисторів, який містить два PN-переходи: один між базою та емітером (БЕ-перехід) та другий між базою та колектором (БК-перехід). Якщо обидва переходи проводять струм лише одному напрямку, транзистор - робочий, інакше - не робочий. Також ми можемо ідентифікувати тип транзистора pnp або npn, визначивши напрямок провідності струму. Для тестування транзисторів, в мікроконтролері використовується 3 входи/виходи
Послідовність для тестування транзистора: 1. Включити вихід (встановити в одиницю) D2 і рахувати D1 та D3. Якщо на D1 логічна одиниця, перехід БЕ проводить струм, інакше – ні. Якщо D3 в 1, то БК проводить струм, інакше – ні.
Далі, якщо БЕ та БК проводять струм, то транзистор npn-типу та робочий. Якщо ж, ЕБ і КБ проводять струм, то транзистор типу pnp і також робочий. У всіх інших випадках (наприклад ЕБ і БЕ проводять струм або обидва переходи БК і КБ не проводять і т.п.) транзистор перебуває в робочому стані. Принципова схема тестеру діодів і транзисторів та опис
Схема тестера дуже проста. У приладі передбачено 2 кнопки керування: Select (вибір) та Detail (докладніше). Після натискання кнопки Select відбувається вибір типу тесту: тест діода чи транзистора. Кнопка Detail працює тільки при режимі тесту транзистора, на екрані LCD відображається тип транзистора (npn або pnp) і статуси провідності переходів транзистора. Три ніжки тестованого транзистора (емітер, колектор та база) приєднуються до "землі" через резистор 1 кОм. Для тестування використовуються висновки RA0, RA1 та RA2 мікроконтролера PIC16F688. Для тестування діода використовується лише два висновки: Е та К (на схемі позначені D1 та D2).
Програма Програмне забезпечення для цього проекту написано за допомогою компілятора MikroC. Під час тестування та програмування будьте уважні та слідкуйте за установками входів/виходів МК (RA0, RA1 та RA2) т.к. вони часто змінюються під час роботи. Перед тим, як встановити будь-який вихід в 1, переконайтеся, що два інших входу/виходу МК визначено як вход. Інакше можливі конфлікти входів/виходів МК.
/*
Project: Diode and Transistor Tester
Internal Oscillator @ 4MHz, MCLR Enabled, PWRT Enabled, WDT OFF
Copyright @ Rajendra Bhatt
November 9, 2010
*/
// LCD module connections
sbit LCD_RS at RC4_bit;
sbit LCD_EN at RC5_bit;
sbit LCD_D4 at RC0_bit;
sbit LCD_D5 at RC1_bit;
sbit LCD_D6 at RC2_bit;
sbit LCD_D7 at RC3_bit;
sbit LCD_RS_Direction at TRISC4_bit;
sbit LCD_EN_Direction at TRISC5_bit;
sbit LCD_D4_Direction at TRISC0_bit;
sbit LCD_D5_Direction at TRISC1_bit;
sbit LCD_D6_Direction at TRISC2_bit;
sbit LCD_D7_Direction at TRISC3_bit;
// End LCD module connections
sbit TestPin1 at RA0_bit;
sbit TestPin2 at RA1_bit;
sbit TestPin3 at RA2_bit;
sbit Detail at RA4_bit;
sbit SelectButton at RA5_bit;
// Define Messages
char message1[] = "Diode Tester";
char message2[] = "BJT Tester";
char message3[] = "Result:";
char message4[] = "Short";
char message5[] = "Open ";
char message6[] = "Good ";
char message7[] = "BJT is";
char *type = "xxx";
char *BE_Info = "xxxxx";
char *BC_Info = "xxxxx";
unsigned int select, test1, test2, update_select, detail_select;
unsigned int BE_Junc, BC_Junc, EB_Junc, CB_Junc;
void debounce_delay(void){
Delay_ms(200);
}
void main() {
ANSEL = 0b00000000; //All I/O pins are configured as digital
CMCON0 = 0?07 ; // Disbale comparators
PORTC = 0;
PORTA = 0;
TRISC = 0b00000000; // PORTC All Outputs
TRISA = 0b00111000; // PORTA All Outputs, Except RA3 (I/P only)
Lcd_Init(); // Initialize LCD
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR); // CLEAR display
Lcd_Cmd(_LCD_CURSOR_OFF); // Cursor off
Lcd_Out(1,2,message1); // Write message1 in 1st row
select = 0;
test1 = 0;
test2 = 0;
update_select = 1;
detail_select = 0;
do {
if(!SelectButton){
debounce_delay();
update_select = 1;
switch (select) {
case 0 : select=1;
break;
case 1 : select=0;
break;
} //case end
}
if(select == 0){ // Diode Tester
if(update_select){
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,2,message1);
Lcd_Out(2,2,message3);
update_select=0;
}
TRISA = 0b00110100; // RA0 O/P, RA2 I/P
TestPin1 = 1;
test1 = TestPin3 ; // Read I/P at RA2
TestPin1 = 0;
TRISA = 0b00110001; // RA0 I/P, RA2 O/P
TestPin3 = 1;
test2 = TestPin1;
TestPin3 = 0;
if((test1==1) && (test2 ==1)){
Lcd_Out(2,10,message4);
}
if((test1==1) && (test2 ==0)){
Lcd_Out(2,10,message6);
}
if((test1==0) && (test2 ==1)){
Lcd_Out(2,10,message6);
}
if((test1==0) && (test2 ==0)){
Lcd_Out(2,10,message5);
}
} // End if(select == 0)
if(select && !detail_select){ // Transistor Tester
if(update_select){
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,2,message2);
update_select = 0;
}
// Test for BE and BC Junctions of n-p-n
TRISA = 0b00110101; // RA0, RA2 I/P, RA1 O/P
TestPin2 = 1;
BE_Junc = TestPin1 ; // Read I/P at RA0
BC_Junc = TestPin3; // Read I/P at RA2
TestPin2 = 0;
// Test for EB and CB Junctions of p-n-p
TRISA = 0b00110110; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
TestPin1 = 1;
EB_Junc = TestPin2;
TestPin1 = 0;
TRISA = 0b00110011; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
TestPin3 = 1;
CB_Junc = TestPin2;
TestPin3 = 0;
if(BE_Junc && BC_Junc && !EB_Junc && !CB_Junc){
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,message6);
type = "n-p-n";
BE_info = "Good ";
BC_info = "Good ";
}
else
if(!BE_Junc && !BC_Junc && EB_Junc && CB_Junc){
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,message6);
type = "p-n-p";
BE_info = "Good ";
BC_info = "Good ";
}
else {
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,"Bad ");
type = "Bad";
}
}
if(select && !Detail){
debounce_delay();
switch (detail_select) {
case 0 : detail_select=1;
break;
case 1 : detail_select=0;
break;
} //case end
update_select = 1;
}
if(detail_select && update_select){
// Test for BE Junction open
if(!BE_Junc && !EB_Junc){
BE_info = "Open ";
}
// Test for BC Junction open
if(!BC_Junc && !CB_Junc){
BC_info = "Open ";
}
// Test for BE Junction short
if(BE_Junc && EB_Junc){
BE_info = "Short";
}
// Test for BC Junction short
if(BC_Junc && CB_Junc){
BC_info = "Short";
}
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,1,"Type:");
Lcd_Out(1,7,type);
Lcd_Out(2,1,"BE:");
Lcd_Out(2,4,BE_info);
Lcd_Out(2,9,"BC:");
Lcd_Out(2,12,BC_info);
update_select = 0;
} // End if (detail_select)
} while(1);
}
Автор: Колтиков А.В.; Публікація: cxem.net
Штучна шкіра для емуляції дотиків
15.04.2024 Котячий унітаз Petgugu Global
15.04.2024 Привабливість дбайливих чоловіків
14.04.2024
▪ Перший у світі поїзд на магнітній подушці ▪ Найкраще місце на борту літака ▪ У трудоголіків більш вгодовані діти ▪ Нову Зеландію вразили 66 тисяч блискавок
▪ розділ сайту Побутові електроприлади. Добірка статей ▪ стаття Розхльобувати кашу. Крилатий вислів ▪ стаття Скільки влучень блискавки пережив світовий рекордсмен за цим показником? Детальна відповідь ▪ стаття Смородина звичайна. Легенди, вирощування, способи застосування ▪ стаття Пригода на ескалаторі. Фізичний експеримент
Головна сторінка | Бібліотека | Статті | Карта сайту | Відгуки про сайт
www.diagram.com.ua |
Дивіться інші статті розділу 
Останні новини науки та техніки, новинки електроніки:
All languages of this page